Resumen
Describes the metrological characteristics of phase correct filters for the measurement of surface profiles. In particular it specifies how to separate the long and short wave content of a surface profile.
Informaciones generales
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Estado: RetiradaFecha de publicación: 1996-12Etapa: Retirada de la Norma Internacional [95.99]
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Edición: 1Número de páginas: 8
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Comité Técnico :ISO/TC 213ICS :17.040.20
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Ciclo de vida
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Preliminar
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Propuesta
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Comité
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Revisión
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Retirada
Correcciones
Corrigen la edición actual; gratuitas; no incluidas en el texto de la norma existente.RetiradaISO 11562:1996/Cor 1:1998
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Revisada por
PublicadoISO 16610-21:2011