Estado : Retirada

Esta norma ha sido revisada por ISO 17470:2014

Resumen

ISO 17470:2004 gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements, within a specific volume, contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.

Informaciones generales

  • Estado
     : Retirada
    Fecha de publicación
     : 2004-09
    Etapa
    : Retirada de la Norma Internacional [95.99]
  • Edición
     : 1
    Número de páginas
     : 10
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 202/SC 2
    ICS :
    71.040.99 
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