| Sous-comité | Titre du sous-comité | Normes publiées | Projets de normes |
|---|---|---|---|
| ISO/TC 201/SC 1 | Terminologie | 3 | 0 |
| ISO/TC 201/SC 2 | Procédures générales | 9 | 2 |
| ISO/TC 201/SC 3 | Gestion et traitement des données | 5 | 1 |
| ISO/TC 201/SC 4 | Profilage d'épaisseur | 6 | 0 |
| ISO/TC 201/SC 6 | Spectrométrie de masse des ions secondaires | 12 | 2 |
| ISO/TC 201/SC 7 | Spectroscopies d'électrons | 23 | 4 |
| ISO/TC 201/SC 8 | Spectroscopie à décharge lumineuse | 6 | 3 |
| ISO/TC 201/SC 9 | Microscopie par sonde à balayage | 8 | 4 |
| ISO/TC 201/SC 10 | Analyse par réflectométrie de rayons X et par fluorescence de rayons X | 1 | 3 |
Filtre :
| Norme et/ou projet sous la responsabilité directe du ISO/TC 201 Secrétariat | Stade | ICS |
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Titre manque |
20.00 |
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Analyse chimique des surfaces — Détermination de la contamination en éléments à la surface des tranches de silicium par spectroscopie de fluorescence X à réflexion totale |
95.99 | |
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Analyse chimique des surfaces — Détermination de la contamination en éléments à la surface des tranches de silicium par spectroscopie de fluorescence X à réflexion totale |
90.93 | |
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Évaluation de l'épaisseur, de la densité et de la largeur de l'interface des films fins par réflectrométrie de rayons X — Exigences instrumentales, alignement et positionnement, rassemblement des données, analyse des données et rapport |
95.99 | |
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Évaluation de l'épaisseur, de la densité et de la largeur de l'interface des films fins par réflectrométrie de rayons X — Exigences instrumentales, alignement et positionnement, rassemblement des données, analyse des données et rapport |
60.60 | |
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Analyse chimique des surfaces — Méthodes chimiques pour collecter les éléments analysés de tranches de silicium comme matériaux de référence pour l'analyse par spectroscopie de fluorescence X en réflexion totale (TXRF) |
90.93 | |
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Analyse chimique des surfaces — Méthodes chimiques pour collecter les éléments analysés de tranches de silicium comme matériaux de référence pour l'analyse par spectroscopie de fluorescence X en réflexion totale (TXRF) — Amendement 1 |
60.60 | |
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Analyse chimique des surfaces — Caractérisation des surfaces — Mesurage de la résolution latérale d'un microscope confocal à fluorescence |
90.93 | |
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Analyse chimique des surfaces — Utilisation de réflexion spectroscopie des rayons X de fluorescence totale dans l'analyse biologique et de l'environnement |
90.93 | |
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Analyse chimique des surfaces — Caractérisation de substrats de verre fonctionnels pour les applications de biodétection |
60.60 | |
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Analyse chimique des surfaces — Mesurage des résolutions latérale et axiale d'un microscope Raman |
60.00 | |
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Titre manque |
60.60 |
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