État actuel : Annulée

Cette norme a été révisée par ISO 15529:2007

Résumé

La présente Norme internationale s'applique particulièrement aux dispositifs d'imagerie électroniques tels que les caméras à CCD et les matrices de CCD elles-mêmes.Bien qu'un certain nombre de méthodes de mesure soient décrites ci-après, le présent document n'a pas vocation d'exclure les autres méthodes si tant est qu'elles fournissent des résultats similaires et qu'elles correspondent aux définitions générales et aux lignes directrices visant à mesurer la MTF conformément à l'ISO 9334 et l'ISO 9335.L'exploitation de la mesure de la répartition des éclairements dans l'image d'un «bord de plage» (ESF), plutôt que de la répartition des éclairements dans l'image d'une ligne (LSF), est mentionnée comme solution de départ optionnelle pour déterminer l'OTF/MTF d'un système de formation d'image.

Informations générales

  • État actuel
     : Annulée
    Date de publication
     : 1999-08
    Stade
    : Annulation de la Norme internationale [95.99]
  • Edition
     : 1
    Nombre de pages
     : 13
  • Comité technique :
    ISO/TC 172/SC 1
    ICS :
    17.180.01 
  • RSS mises à jour

Cycle de vie

Vous avez une question?

Consulter notre FAQ

Service à la clientèle
+41 22 749 08 88

Horaires d’ouverture:
De lundi à vendredi - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Store
  3. Catalogue de normes
  4. TC
  5. ISO/TC 172/SC 1
  6. ISO 15529:1999