Это стандарт пересмотренISO/TR 15969:2021
Тезис
This Technical Report gives guidelines for measuring the sputtered depth in sputtered depth profiling. The methods
of sputtered depth measurement described in this Technical Report are applicable to techniques of surface
chemical analysis when used in combination with ion bombardment for the removal of a part of a solid sample to a
typical sputtered depth of up to severalmicrometres.
-
Текущий статус: WithdrawnДата публикации: 2001-06
-
Версия: 1
-
- ICS :
- 71.040.40 Chemical analysis
Жизненный цикл
-
Сейчас
-
00
Предварительная стадия
-
10
Стадия, связанная с внесением предложения
-
20
Подготовительная стадия
-
30
Стадия, связанная с подготовкой проекта комитета
-
40
Стадия, связанная с рассмотрением проекта международного стандарта
-
50
Стадия, на которой осуществляется принятие стандарта
-
60
Стадия, на которой осуществляется публикация
-
90
Стадия пересмотра
-
95
Стадия, на которой осуществляется отмена стандарта
-
00
-
Пересмотрен
PublishedISO/TR 15969:2021
Появились вопросы?
Ознакомьтесь с FAQ
Работа с клиентами
+41 22 749 08 88
Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)
Будьте в курсе актуальных новостей ИСО
Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.