Reference number
ISO 18452:2005
© ISO 2024
International Standard
ISO 18452:2005
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Determination of thickness of ceramic films by contact-probe profilometer
Edition 1
2005-11
Preview
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2005)
Последний раз этот публикация был пересмотрен в  2019. Поэтому данная версия остается актуальной.

ISO 18452:2005

Язык
Формат
CHF 63
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 18452:2005 specifies a method for the determination of the film thickness of a fine ceramic film and ceramic coatings by a contact-probe profilometer. The method is suitable for film thicknesses in the range of 10 nm to 10 000 nm.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2005-11
    Этап
    : Систематический пересмотр международного стандарта [90.20]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 206
    ICS :
    81.060.30 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 81
  6. 81.060
  7. 81.060.30
  8. ISO 18452:2005