ISO 24173:2009
w
ISO 24173:2009
42052

Текущий статус : Отозвано

Это стандарт пересмотренISO 24173:2024

Тезис

ISO 24173:2009 gives advice on how to generate reliable and reproducible crystallographic orientation measurements using electron backscatter diffraction (EBSD). It addresses the requirements for specimen preparation, instrument configuration, instrument calibration and data acquisition.

Общая информация

  •  : Отозвано
     : 2009-09
    : Отмена международного стандарта [95.99]
  •  : 1
  • ISO/TC 202
    71.040.50 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)