Тезис
ISO 18117:2009 gives guidance on the handling of and the containers for specimens submitted for surface chemical analysis. It is intended for the user of surface analysis services as an aid in understanding the special sample handling requirements of surface chemical analysis techniques, particularly the following: Auger electron spectroscopy (AES), secondary-ion mass spectrometry (SIMS) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS or ESCA). The protocols presented may also be applicable to other analytical techniques, such as TXRF, that are sensitive to surface composition. In particular instances, with particular specimens, further precautions may be necessary.
Общая информация
-
Текущий статус: ОтозваноДата публикации: 2009-03
Исправленный вариант (английский): 2009-06
Исправленный вариант (Французский): 2009-06Этап: Отмена международного стандарта [95.99] -
Версия: 1
-
Технический комитет :ISO/TC 201/SC 2ICS :71.040.40
- RSS обновления
Жизненный цикл
-
Сейчас
-
00
Предварительная стадия
-
10
Стадия, связанная с внесением предложения
-
20
Подготовительная стадия
-
30
Стадия, связанная с подготовкой проекта комитета
-
40
Стадия, связанная с рассмотрением проекта международного стандарта
-
50
Стадия, на которой осуществляется принятие стандарта
-
60
Стадия, на которой осуществляется публикация
-
90
Стадия пересмотра
-
95
Стадия, на которой осуществляется отмена стандарта
-
00
-
Пересмотрен
ОпубликованоISO 20579-1:2024