Reference number
ISO 15932:2013
ISO 15932:2013
© ISO 2024
International Standard
ISO 15932:2013
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Vocabulary
Edition 1
2013-12
2013-12
Тезис
ISO 15932:2013 defines terms used in the practice of AEM. It covers both general and specific concepts classified according to their hierarchy in a systematic order. It is applicable to all standardization documents relevant to the practice of AEM. In addition, some parts of this International Standard are applicable to those documents relevant to the practice of related fields (e.g. TEM, STEM, SEM, EPMA, EDX) for the definition of those terms common to them.
Общая информация
-
Текущий статус: ОпубликованоДата публикации: 2013-12Этап: Рассылка краткого отчета о пересмотре [90.60]
-
Версия: 1
-
Технический комитет :ISO/TC 202/SC 1
- RSS обновления
Жизненный цикл
-
Сейчас
ОпубликованоISO 15932:2013
Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет
Этап: 90.60 (Hа стадии пересмотра)-
00
Предварительная стадия
-
10
Стадия, связанная с внесением предложения
-
20
Подготовительная стадия
-
30
Стадия, связанная с подготовкой проекта комитета
-
40
Стадия, связанная с рассмотрением проекта международного стандарта
-
50
Стадия, на которой осуществляется принятие стандарта
-
60
Стадия, на которой осуществляется публикация
-
90
Стадия пересмотра
-
95
Стадия, на которой осуществляется отмена стандарта
-
00