International Standard
ISO 19668:2017
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Estimating and reporting detection limits for elements in homogeneous materials
Reference number
ISO 19668:2017
Версия 1
2017-08
© ISO 2024
International Standard
Предпросмотр
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2017)

ISO 19668:2017

Формат
Язык
CHF 129
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 19668:2017 specifies a procedure by which elemental detection limits in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) can be estimated from data for a particular sample in common analytical situations and reported. This document is applicable to homogeneous materials and is not applicable if the depth distribution of elements is inhomogeneous within the information depth of the technique.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2017-08
    Этап
    : Рассылка краткого отчета о пересмотре [90.60]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 201/SC 7
    ICS :
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цели в области устойчивого развития

7
Недорогостоящая и чистая энергия
9
Индустриализация, инновации и инфраструктура
8
Достойная работа и экономический рост

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 71
  6. 71.040
  7. 71.040.40
  8. ISO 19668:2017