International Standard
ISO 21222:2020
Surface chemical analysis — Scanning probe microscopy — Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method
Reference number
ISO 21222:2020
Версия 1
2020-01
© ISO 2024
International Standard
Предпросмотр
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2020)

ISO 21222:2020

Формат
Язык
CHF 96
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This document describes a procedure for the determination of elastic modulus for compliant materials using atomic force microscope (AFM). Force-distance curves on the surface of compliant materials are measured and the analysis uses a two-point method based on Johnson-Kendall-Roberts (JKR) theory. This document is applicable to compliant materials with elastic moduli ranging from 100 kPa to 1 GPa. The spatial resolution is dependent on the contact radius between the AFM probe and the surface and is typically approximately10-20 nm.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2020-01
    Этап
    : Опубликование международного стандарта [60.60]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 201/SC 9
    ICS :
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 71
  6. 71.040
  7. 71.040.40
  8. ISO 21222:2020