недоступно на русском языке

Тезис

 Предпросмотр

This document specifies a method to optimize the mass calibration accuracy in time-of-flight secondary ion mass spectrometry (SIMS) instruments used for general analytical purposes. It is only applicable to time-of-flight instruments but is not restricted to any particular instrument design. Guidance is provided for some of the instrumental parameters that can be optimized using this procedure and the types of generic peaks suitable to calibrate the mass scale for optimum mass accuracy.


Общая информация 

  • Текущий статус
     :  Published
    Дата публикации
     : 2018-11
  • Версия
     : 2
  • Технический комитет
     : ISO/TC 201/SC 6 Secondary ion mass spectrometry
  • ICS
     :
    71.040.40 Chemical analysis

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цели в области устойчивого развития:

3
Хорошее здоровье и благополучие
9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF + ePub
Бумажный
  • CHF92

Жизненный цикл


Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 71
  6. 71.040
  7. 71.040.40
  8. ISO 13084:2018