ISO/WD TR 23683
Surface chemical analysis — scanning probe microscopy — Guideline for experimental quantification of carrier concentration in semiconductor devices by using electric scanning probe microscopy
Reference number
ISO/WD TR 23683
Версия 1
© ISO 2024
Working draft
В стадии разработки
Проект данного международного стандарта был подготовлен рабочей группой.

Общая информация

  • Текущий статус
     : В стадии разработки
    Этап
    : Рабочий проект принят для регистрации в качестве проекта комитета [20.99]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 201/SC 9
    ICS :
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 71
  6. 71.040
  7. 71.040.40
  8. ISO/WD TR 23683