ISO 23729:2022
p
ISO 23729:2022
79844
недоступно на русском языке
Текущий статус : Опубликовано
ru
Формат Язык
std 1 92 PDF + ePub
std 2 92 Бумажный
  • CHF92
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This document describes a procedure for the quantitative characterization of the probe tip of an atomic force microscope (AFM) probe and a restoration of AFM topography images dilated by finite probe size. The three-dimensional shape of the probe apex is extracted by image reconstruction using suitable reference materials. This document is applicable to the reconstruction of AFM topography images of solid material surfaces.

Общая информация

  •  : Опубликовано
     : 2022-07
    : Опубликование международного стандарта [60.60]
  •  : 1
  • ISO/TC 201/SC 9
    71.040.40 
  • RSS обновления

Preview 

Предварительно ознакомьтесь с этим стандартом в нашем Он-лайн библиотека стандартов (OBP)

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)