Resumen
This document gives guidance on how to generate reliable and reproducible crystallographic orientation measurements using electron backscatter diffraction (EBSD). It addresses the requirements for specimen preparation, instrument configuration, instrument calibration and data acquisition.
Informaciones generales
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Estado: PublicadoFecha de publicación: 2024-02Etapa: Norma Internacional publicada [60.60]
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Edición: 2Número de páginas: 40
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Comité Técnico :ISO/TC 202ICS :71.040.50
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RetiradaISO 24173:2009
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