International Standard
ISO 24173:2024
Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
Reference number
ISO 24173:2024
Edition 2
2024-02
© ISO 2024
Preview
Indisponible en français
Publiée (Edition 2, 2024)

ISO 24173:2024

Langue
Format
CHF 173
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Résumé

This document gives guidance on how to generate reliable and reproducible crystallographic orientation measurements using electron backscatter diffraction (EBSD). It addresses the requirements for specimen preparation, instrument configuration, instrument calibration and data acquisition.

Informations générales

  • État actuel
     : Publiée
    Date de publication
     : 2024-02
    Stade
    : Norme internationale publiée [60.60]
  • Edition
     : 2
  • Comité technique :
    ISO/TC 202
    ICS :
    71.040.50 
  • RSS mises à jour

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