Informations

Domaine des travaux

Normalisation dans le domaine de l'analyse par microfaisceaux (mesurage, paramètres, méthodes et matériaux de référence) qui utilise des électrons comme rayon incident et des ions ou des photons comme signal de détection.

Note:

L'objet consiste à analyser les caractéristiques de composition et de structure des matériaux solides. Le volume analysé fera généralement intervenir une profondeur jusqu'à 10 micromètres et une aire inférieure à 100 micromètres carrés.

Liens utiles

Objectifs de développement durable

Ce comité contribue avec 4 normes à l'Objectif de développement durable suivant :

30

Normes ISO publiées *

dont 9 sous la responsabilité directe du ISO/TC 202

7

Projets de normes ISO *

9
Membres participants
13
Membres observateurs

* ce nombre inclut les mises à jour

Référence Titre Type
ISO/TC 202/SC 1 Terminologie Sous-comité
ISO/TC 202/SC 2 Microanalyse par sonde à électrons Sous-comité
ISO/TC 202/SC 3 Microscopie analytique à électrons Sous-comité
ISO/TC 202/SC 4 Microscopie électronique à balayage Sous-comité
ISO/TC 202/AG   Orientations futures dans l’analyse par microfaisceaux Groupe de travail
Comités en liaison vers le ISO/TC 202

Les Comités ci-dessous peuvent accéder aux documents du ISO/TC 202:

Référence Titre ISO/CEI
ISO/TC 201 Analyse chimique des surfaces ISO
ISO/TC 201/SC 10 Analyse par réflectométrie de rayons X et par fluorescence de rayons X ISO
ISO/TC 229 Nanotechnologies ISO

 

Comités en liaison depuis le ISO/TC 202

ISO/TC 202 peut accéder aux documents des Comités ci-dessous :

Référence Titre ISO/CEI
ISO/TC 201 Analyse chimique des surfaces ISO
ISO/TC 229 Nanotechnologies ISO

 

Organisations en liaison (Catégories A et B)
Sigle Titre Catégorie
EMAS European Microbeam Analysis Society A
VAMAS Versailles Project on Advanced Materials and Standards A

ISO/TC 202 - Secrétariat

SAC [Chine]

Institute of Chemistry
Bei Yi Jie 2#, ZhongGuanCun
Beijing 100190
Chine

Tel: +86 10 82 61 84 76
Fax: +86 10 82 61 84 76