Draft
International Standard
ISO/DIS 11505
Surface chemical analysis — General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry
Reference number
ISO/DIS 11505
Edition 2
Proyecto Norma internacional
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ISO/DIS 11505
87870
No disponible en español
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Reemplazará ISO 11505:2012

ISO/DIS 11505

ISO/DIS 11505
87870
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CHF 63
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Resumen

ISO 11505:2013 describes a glow discharge optical emission spectrometric (GD-OES) method for the determination of the thickness, mass per unit area and chemical composition of surface layer films.

It is limited to a description of general procedures of quantification of GD-OES and is not applicable directly for the quantification of individual materials having various thicknesses and elements to be determined.

Informaciones generales

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  • ISO/TC 201/SC 8
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