Proof
ISO/PRF 11505
Surface chemical analysis — General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry
Reference number
ISO/PRF 11505
Edition 2
Proof
ISO/PRF 11505
87870
Este borrador está en fase de aprobación.
Reemplazará ISO 11505:2012

Resumen

ISO 11505:2013 describes a glow discharge optical emission spectrometric (GD-OES) method for the determination of the thickness, mass per unit area and chemical composition of surface layer films.

It is limited to a description of general procedures of quantification of GD-OES and is not applicable directly for the quantification of individual materials having various thicknesses and elements to be determined.

Informaciones generales

  •  : En desarrollo
    : Texto final recibido o FDIS registrado para su aprobación formal [50.00]
  •  : 2
  • ISO/TC 201/SC 8
    71.040.40 
  • RSS actualizaciones

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