Проект
Международный стандарт
ISO/DIS 16666
Surface chemical analysis — Total reflection X-ray fluorescence — Principles and general requirements
Ссылочный номер
ISO/DIS 16666
Версия 1
Проект Международный стандарт
ISO/DIS 16666
84747
Проект данного международного стандарта находится на этапе рассмотрения членами ИСО.

Тезис

This document specifies terms and definitions for analytical methods where elements are identified and their concentrations determined by measuring X ray fluorescence radiation. The aim of this document is to establish terms and definitions for TXRF and to match these with terms and definitions relating to X ray fluorescence analysis.

Общая информация

  •  : В стадии разработки
    : Регистрация проекта международного стандарта (DIS) [40.00]
  •  : 1
  • ISO/TC 201/SC 10
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ