Projet
Norme internationale
ISO/DIS 16666
Surface chemical analysis — Total reflection X-ray fluorescence — Principles and general requirements
Numéro de référence
ISO/DIS 16666
Edition 1
© ISO 2024
Projet Norme internationale
Projet
Projet de Norme internationale au stade enquête auprès des membres de l’ISO.

Résumé

This document specifies terms and definitions for analytical methods where elements are identified and their concentrations determined by measuring X ray fluorescence radiation. The aim of this document is to establish terms and definitions for TXRF and to match these with terms and definitions relating to X ray fluorescence analysis.

Informations générales

Cycle de vie

Objectifs de développement durable

Cette norme contribue aux Objectifs de développement durable suivants

3
Bonne santé et bien-être
4
Éducation de qualité
6
Eau propre et assainissement
7
Énergie propre et d'un coût abordable
9
Industrie, innovation et infrastructure
13
Mesures relatives à la lutte contre les changements climatiques

Vous avez une question?

Consulter notre Aide et assistance

  2. Store
  3. Catalogue de normes
  4. ICS
  5. 71
  6. 71.040
  7. 71.040.40
  8. ISO/DIS 16666