Draft
International Standard
ISO/DIS 11505
Surface chemical analysis — General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry
Reference number
ISO/DIS 11505
Edition 2
Проект Международный стандарт
Preview
ISO/DIS 11505
87870
недоступно на русском языке
Проект данного международного стандарта находится на этапе рассмотрения членами ИСО.
Текущее издание: ISO 11505:2012

ISO/DIS 11505

ISO/DIS 11505
87870
Язык
Формат
CHF 63
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 11505:2013 describes a glow discharge optical emission spectrometric (GD-OES) method for the determination of the thickness, mass per unit area and chemical composition of surface layer films.

It is limited to a description of general procedures of quantification of GD-OES and is not applicable directly for the quantification of individual materials having various thicknesses and elements to be determined.

Общая информация

  •  : В стадии разработки

    You can help develop this draft international standard by contacting your national member

    : Начало голосования по проекту между-народно-го стандарта: 3 мес. [40.20]
  •  : 2
  • ISO/TC 201/SC 8
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ