ISO/DIS 11505

Indisponible en français

Projet

Projet de Norme internationale au stade enquête auprès des membres de l’ISO.

Remplacera ISO 11505:2012

ISO/DIS 11505

CHF 63

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Résumé

ISO 11505:2013 describes a glow discharge optical emission spectrometric (GD-OES) method for the determination of the thickness, mass per unit area and chemical composition of surface layer films.

It is limited to a description of general procedures of quantification of GD-OES and is not applicable directly for the quantification of individual materials having various thicknesses and elements to be determined.

Informations générales

État actuel
: Projet

Vous pouvez contribuer à l’élaboration de ce projet de Norme internationale en contactant le membre national

Stade
: Mise au vote du DIS: 12 semaines [40.20]
Edition
: 2
Comité technique :
ISO/TC 201/SC 8

ICS :
71.040.40
RSS mises à jour