Reference number
ISO 11505:2012
ISO 11505:2012
© ISO 2024
International Standard
ISO 11505:2012
Surface chemical analysis — General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry
Edition 1
2012-12
2012-12
ISO 11505:2012
50563
Publiée
(Edition 1, 2012)
Cette publication a été révisée et confirmée pour la dernière fois en 2018.
Cette édition reste donc d’actualité.
Remplacement prévu par ISO/DIS 11505 dans les mois à venir.
ISO 11505:2012
ISO 11505:2012
50563
CHF
151
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Résumé
ISO 11505:2013 describes a glow discharge optical emission spectrometric (GD-OES) method for the determination of the thickness, mass per unit area and chemical composition of surface layer films.
It is limited to a description of general procedures of quantification of GD-OES and is not applicable directly for the quantification of individual materials having various thicknesses and elements to be determined.
Informations générales
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État actuel: PubliéeDate de publication: 2012-12Stade: Norme internationale à réviser [90.92]
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Edition: 1
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Comité technique :ISO/TC 201/SC 8ICS :71.040.40
- RSS mises à jour
Prochaine édition en cours d'élaboration
Draft
International StandardISO/DIS 11505
Analyse chimique des surfaces — Modes opératoires généraux pour le profilage en profondeur compositionnel quantitatif par spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente
Reference number
ISO/DIS 11505
ISO/DIS 11505
Edition 1
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Projet Norme internationale
ISO/DIS 11505
Analyse chimique des surfaces — Modes opératoires généraux pour le profilage en profondeur compositionnel quantitatif par spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente
Cycle de vie
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Actuellement
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ProjetISO/DIS 11505
