Résumé
PreviewThis document presents a list of common practices in preparation methods of metallographic specimens for optical and scanning electron microscopy, including preliminary preparation, grinding and polishing of specimens as well as microstructure revelation methods covering the optical method, etching methods (chemical, electrolytic, constant potential, ion sputtering and high temperature relieving) and the interface layer method [1][2].
-
État actuel: PubliéeDate de publication: 2022-07
-
Edition: 1
-
Comité technique: ISO/TC 17/SC 7 Méthodes d'essais (autres que les essais mécaniques et les analyses chimiques)
-
- ICS :
- 77.080.20 Aciers
Acheter cette norme
fr
| Format | Langue | |
|---|---|---|
| std 1 92 | PDF + ePub | |
| std 2 92 | Papier |
- CHF92
Cycle de vie
Vous avez une question?
Consulter notre FAQ
Service à la clientèle
+41 22 749 08 88
Horaires d’ouverture:
De lundi à vendredi - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)
Suivez l'actualité de l'ISO
Inscrivez-vous à notre Newsletter (en anglais) pour suivre nos actualités, points de vue et informations sur nos produits.