ISO 2177:2003
2003-03
Résumé
L'ISO 2177:2002 décrit une méthode coulométrique de mesurage, par dissolution anodique, de l'épaisseur des revêtements métalliques. Elle n'est applicable qu'aux dépôts conducteurs.
Elle donne des combinaisons types de dépôts et de métaux de base qui peuvent être mesurés selon cette méthode. D'autres combinaisons peuvent être essayées avec des électrolytes d'usage courant, ou avec de nouveaux électrolytes mis au point à cet effet mais il est, dans les deux cas, nécessaire de vérifier l'aptitude à l'emploi du système complet.
L'ISO 2177:2002 est également applicable aux systèmes multicouches, par exemple Cu-Ni-Cr. Elle peut aussi être utilisée pour mesurer l'épaisseur de revêtements appliqués par divers moyens, s'il est tenu compte des particularités telles que la présence d'une couche d'alliage. Dans certains cas, il est également possible de déceler la présence et de mesurer l'épaisseur de couches de diffusion. Elle peut enfin être utilisée pour mesurer l'épaisseur des revêtements déposés sur des échantillons cylindriques et des fils.
Informations générales
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État actuel: PubliéeDate de publication: 2003-03Stade: Norme internationale confirmée [90.93]
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Edition: 3Nombre de pages: 15
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Comité technique :ISO/TC 107ICS :25.220.40
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Cycle de vie
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Précédemment
AnnuléeISO 2177:1985
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Actuellement