Résumé
L'ISO 18516:2006 décrit trois procédés pour mesurer la résolution latérale obtenue dans les spectromètres d'électrons Auger et les spectromètres de photoélectrons par rayons X avec des réglages définis. Le procédé du bord rectiligne convient pour les instruments où la résolution latérale est supposée être supérieure à 1 micromètre. Le procédé de la grille convient si la résolution latérale est supposée être inférieure à 1 micromètre mais supérieure à 20 nm. Le procédé de l'îlot d'or convient pour les instruments où la résolution latérale est supposée être inférieure à 50 nm.
Les Annexes A, B et C fournissent des exemples illustratifs de la mesure de la résolution latérale.
Informations générales
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État actuel: AnnuléeDate de publication: 2006-11Stade: Annulation de la Norme internationale [95.99]
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Edition: 1Nombre de pages: 25
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Comité technique :ISO/TC 201/SC 2ICS :71.040.40
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PubliéeISO 18516:2019