Reference number
ISO 17470:2014
© ISO 2024
International Standard
ISO 17470:2014
Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
Edition 2
2014-01
Preview
Indisponible en français
Publiée (Edition 2, 2014)
Cette publication a été révisée et confirmée pour la dernière fois en 2019. Cette édition reste donc d’actualité.

ISO 17470:2014

Langue
Format
CHF 63
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Résumé

ISO 17470:2014 gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements within a specific volume (on a μm3 scale) contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.

Informations générales

  • État actuel
     : Publiée
    Date de publication
     : 2014-01
    Stade
    : Clôture de l'examen [90.60]
  • Edition
     : 2
  • Comité technique :
    ISO/TC 202/SC 2
    ICS :
    71.040.99 
  • RSS mises à jour

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