Résumé
Le présent document décrit les grandeurs d'influence et les caractéristiques des instruments utilisés dans les systèmes de microscopie confocale (MC) pour le mesurage surfacique de la topographie des surfaces. Comme les profils de surface peuvent être extraits des images par topographie de surface, les métodes décrites dans le présent document peuvent également être appliqués aux mesures de profilage
Informations générales
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État actuel: PubliéeDate de publication: 2019-03Stade: Norme internationale à réviser [90.92]
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Edition: 1Nombre de pages: 22
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Comité technique :ISO/TC 213ICS :17.040.20
- RSS mises à jour
Cycle de vie
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Actuellement
PubliéeISO 25178-607:2019
Les normes ISO sont réexaminées tous les cinq ans
Stade: 90.92 (Sera révisée) -
Sera remplacée par
ProjetISO/AWI 25178-607