ISO/PRF 19606

Indisponible en français

Projet (Edition 2, 2024)

Projet au stade approbation.

Remplacera ISO 19606:2017

Résumé

ISO 19606:2017 describes a method to evaluate the adequateness of a probe tip for fine-ceramic thin-film surface roughness measurements by atomic force microscopy, of surfaces with an arithmetical mean roughness, Ra, in the range of about 1 nm to 30 nm and a mean width of roughness profile elements, RSm, in the range of about 0,04 μm to 2,5 μm.

Informations générales

État actuel
: Projet

Date de publication
: 2024-11

Stade
: Epreuve envoyée au secrétariat ou mise au vote du FDIS: 8 semaines [50.20]
Edition
: 2
Comité technique :
ISO/TC 206

ICS :
81.060.30
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