ISO 24173:2009
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ISO 24173:2009
42052

État actuel : Annulée

Cette norme a été révisée par ISO 24173:2024

Résumé

L'ISO 24173:2009 fournit des recommandations sur la façon de produire des mesures d'orientation cristallographique fiables et reproductibles en utilisant la diffraction d'électrons rétrodiffusés (EBSD). Elle aborde les conditions de préparation des échantillons, la configuration de l'instrument, l'étalonnage et l'acquisition des données.

Informations générales

  •  : Annulée
     : 2009-09
    : Annulation de la Norme internationale [95.99]
  •  : 1
     : 45
  • ISO/TC 202
    71.040.50 
  • RSS mises à jour

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